電源連接器的性能測試評估工序講解!
電源連接器的設計旨在適用于各種環(huán)境中的應用,為了使連接器能夠具備規(guī)范的環(huán)境性能,則必須進行嚴格的性能測試工藝,以評估連接器的可靠性是否符合應用需求,本文鑫鵬博連接器廠家主要為大家分享電源連接器的性能測試評估工序!
在多少情況下,電源連接器的環(huán)境性能測試組可以基本上可重復測試,已確定適合預期操作環(huán)境范圍的不良因素及確定用于電源應用連接器的電流容量或電流額定值。
而連接器的電流容量是根據(jù)作為電流函數(shù)的連接器的溫升來定義的,30攝氏度的溫升是最常用的溫升標準。因此,在環(huán)境溫度范圍內產生30攝氏度溫升的連續(xù)電流定義了連接器的電流額定值。因此,應在測試序列中的兩個點添加T-rise與電流(TP70)在第一次電阻測量和耐久性之間,以及在最終電阻測量之后的序列末尾。
當測試工藝旨在評估電源連接器時,通常會進行兩種電阻測量,分別為LLCR的低電平接觸電阻(TP27)和CRAC的額定電流下的接觸電阻(TP06)。如果電源連接器需要進行兩種電阻測試,LLCR應始終先于CRAC,LLRC測試通常在20毫伏開路電壓下進行。而且該電壓太低,可以避免電破壞任何可能影響連接器界面接觸電阻的表面薄膜,CRAC測量可以施加足以電破壞任何此類薄膜的電壓。
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